El microscopio electrónico de barrido o Scanning electron microscopy (SEM) es un equipo que se utiliza para la caracterización morfológica y superficial de materiales, desde unos cuantos milímetros hasta escala nanométrica, debido que alcanza resoluciones de hasta 1 nanómetro (radio de Fe 0.126nm). Su principio físico de medición se basa en la interacción de un haz de electrones producido por la columna del equipo con la muestra de interés. Esto origina la dispersión de los electrones de haz (Backscattered electrons) y desprendimiento de electrones de la superficie de la muestra (secondary electrons), que son usados para la generación de imagen. Además, esta interacción produce rayos X, los cuales son comúnmente usados en el análisis químico elemental.
El equipo adquirido por el programa ÓMICAS es un Tescan Clara, este posee fuente de electrones por emisión de campo (Field Emission) produciendo un haz con mayor energía y estabilidad, y con ello imágenes con mayor resolución y aumentos. Además, está equipado con una etapa criogénica, lo que permite la preparación y medición de muestras orgánicas a alta resolución.
