El microscopio de fuerza atómica o Atomic Force Microscopy (AFM) es usado para la caracterización superficial de sistemas orgánicos e inorgánicos, tanto en seco como en húmedo. Su principio de operación consiste en el uso de un cantilever cuya punta tiene un diámetro de pocos nanómetros (entre 7 y 25nm), la cual realiza un barrido lineal de la superficie generando un perfil. La contracción de la imagen será producto de la unión de estos perfiles efectuando barridos en áreas que van desde 30x30 micras hasta 10x10nm. Además, este equipo permite hacer otro tipo de análisis, como propiedades mecánicas, eléctricas, magnéticas, entre otros. Todo depende del tipo de punta y el módulo que tenga el equipo.
El programa ÓMICAS adquirió un AFM Chyper-ES de la empresa Asylum Reseach. Además de la caracterización superficial estándar, este equipo permite medir propiedades piezoeléctricas, medir en medio líquido, realizar cambios de temperatura (0 a 120ºC) y posee un módulo que permite evaluar cambios in-situ de la superficie ante reacciones electroquímicas.
